返回首页 在线留言 联系我们
13925211680
首页 > 技术支持 > 测厚仪的测试原理和使用注意事项

技术支持

测厚仪的测试原理和使用注意事项
更新时间:2023-02-16   点击次数:401次
   测厚仪适用于各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片等硬质和软质材料厚度准确测量,分辨率达0.1um,广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。
 
  测试原理
  测厚仪采用接触式测试原理,截取一定尺寸试样,测厚仪测量头自动降落于试样之上,依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。
 
  测厚仪的使用注意事项:
  1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
  2、在测量的时候要注意,侧头与试样表面保持垂直。
  3、在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  4、在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
  5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
  6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
  7、在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
  8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

分享到:

返回列表 | 返回顶部
上一篇 : 测厚仪的使用方法    下一篇 :  扫描量热仪到底如何测定比热容?
网站首页 公司简介 产品中心 技术支持 企业动态 联系我们
深圳市华得利科技有限公司(www.vastechnical.net)版权所有 总访问量:195339
电话: 传真: 地址:深圳市龙华新区东环二路新华苑二期1号楼2单元803
GoogleSitemap 技术支持:化工仪器网 ICP备案号:粤ICP备2023129069号
点击这里给我发消息
 

化工仪器网

推荐收藏该企业网站