测厚仪适用于各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片等硬质和软质材料厚度准确测量，分辨率达0.1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。
测试原理
测厚仪采用接触式测试原理，截取一定尺寸试样，测厚仪测量头自动降落于试样之上，依靠固定的压力和固定的接触面积下测试出试样的厚度值。
测厚仪的使用注意事项：
1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
2、在测量的时候要注意，侧头与试样表面保持垂直。
3、在进行测试的时候要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
4、在测量的时候要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。
8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
更新时间：2023-02-16
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