岛津荧光光谱仪也就是X荧光光谱仪，它是一种较新型的可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X荧光光谱仪(WD-XRF)是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和探测器作同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度。可以据此进行定性分析和定量分析。波长色散型X射线荧光谱仪产生于上世纪50年代，由于可以对复杂体系进行多组分同时测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置这种仪器，分析速度显着提高，起了重要作用。

    不管任何分析仪器，分析技术是获得正确结果的保证。分析技术贯穿于仪器应用的全过程。分析方法的选择必须满足仪器应用的需要。下面介绍下岛津荧光光谱仪分析技术误区：

    误区1：标样制备太麻烦，用无标样法。

    岛津荧光光谱仪分析法和其它大部分分析仪器一样，是相对分析法。在X荧光光谱仪分析中，测得的X射线强度与相应元素浓度的对应关系*是建立在标准样品的基础之上的，必须制备足够数量的标准样品，标样的质量直接决定了分析结果的可靠性。基本参数法等无标样分析法一般是用于*未知样品的初步分析的，所谓无标样也只是不需要系列标准样而已。只要得出数据，就得有一套相对的标准数据，所以，要更好的使X荧光光谱仪，得出更准确的分析结果，高质量的标准样品是*的。

    误区2：标准样品可以购买别人的。

    很多人认为，标准样品自己制备不好，还是买别人的好，其实，事实不是这样，这是因为由于每个用户的原料情况、配比是各不相同的，而对于X荧光光谱仪分析而言，标准样与被测未知样越相似，测定结果越好，因此为了取得好的分析结果，各用户应自己配制标样。标样的配置应注意几个问题：

    （1）必须主要用生产用原料配制，个别少量组份可用化学试剂；

    （2）标样数目应大于被分析元素个数（至少多两个）；

    （3）标样中被测元素的含量范围应*覆盖未知样品相应元素的浓度变化范围；

    （4）标样中各被测元素的浓度之间不应存在相关性。

    误区3：工作曲线的评价。

    通常对工作曲线的定量评价标准主要是相关系数和标准偏差，从数学上来讲，相关系数越接近1越好，标准偏差越小越好。但必须首先检查是否符合物理意义，斜率大小是否合适。

    误区4：基体校正中元素间影响因子的设定越多越好。

    如不考虑物理意义就数学结果而选择影响因子，就无法保证未知样分析的正确可靠。影响因子的设定应遵循相邻元素、主元素、浓度变化范围大的元素、重元素的原则，在此基础上根据经验试设。